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掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
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產地:

產品簡介

lexSEM 1000 II,憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面,具有亮度和對焦自動調節功能,可以在短時間內進行各種觀察。此外,還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”,這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,實現最直觀的視野移動。

· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡,仍可實現4.0 nm的分辨率

· 憑借獨特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器(UVD*2),可在低加速/低真空下觀察時實現最高的畫質

· 全新的用戶界面,無論用戶的熟練程度如何,都可實現高畫質和高處理能力

· 全新的定位功能“SEM MAP”,支持觀察時的視野搜索和樣品定位

· 大直徑(30毫米2)無氮EDS檢測器,可快速進行元素分析*2

產品參數

項目

內容

分辨率*3

4.0 nm(二次電子像、加速電壓:20 kV、高真空模式)
15.0 nm(二次電子像、加速電壓:1 kV、高真空模式)
5.0 nm(背散射電子像、加速電壓:20 kV、低真空模式)

加速電壓

0.3 kV~20 kV

倍率

×6~×300,000 (照片倍率)
×16~×800,000 (顯示器顯示倍率)

低真空設置

6~100 Pa

電子槍

集中燈箱(Pre-Centered Cartridge Filament)

樣品臺

3軸馬達驅動樣品臺
X:0~50 mm、Y:0~40 mm、Z:5~15 mm
T:-15~90°、R:360°
最大可觀察范圍:直徑64mm(R聯用)*4

最大樣品尺寸

直徑80 mm(選配:直徑153mm)

最大樣品高度

40 mm

尺寸

機體:450(寬度)×640(進深)×690(高度) mm
電源盒:450(寬度)×640(進深)×450(高度) mm

選項

· 高敏感度低真空檢測器(UVD2.0)

· 能量色散型X射線檢測器(EDS)

軟件

Multi Zigzag(連續視野圖像導入功能)

 

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